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北京泰仕特涂層測厚儀多點校準和零校準

更新時間: 2018-04-11
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  北京泰仕特涂層測厚儀TST-EC770能無損傷、快速、精密地進行涂、鍍層厚度的測量。它能廣泛應用在制造業、金屬加工業、化工業、商檢等檢測領域,是材料表面處理工程*的儀器。它可以穩定地工作于實驗室、車間現場和戶外。
  北京泰仕特涂層測厚儀TST-EC770能同時測量磁性基材表面(如鋼、鐵等)的非磁性涂鍍層(如油漆、陶瓷、鉻等),以及非磁性金屬基材表面的非導電涂鍍層(如油漆等)。本儀表內置高精密雙探頭,利用電磁感應和渦流效應,全自動探測基材屬性,計算涂鍍層厚度,并通過點陣液晶快速顯示結果。同時,測量數據可分組保存,并實時顯示統計值。用戶可分別為每組設置上下限、零校準、多點校準。全新的多點校準和零校準,讓您非常方便的隨時進行校準。標準化菜單,確保您非常容易的使用它。
  北京泰仕特涂層測厚儀TST-EC770產品特點:
  大點陣液晶屏,標準化菜單操作;
  兩種測量模式:單次(Single)和連續(Continuous);
  兩種組模式:直接組(DIR)和通用組(GEN),一個直接組和四個通用組,每組可存儲80個數據;
  可零校準和多點校準(zui多四點)。各組有單獨的零校準和多點校準,組與組之間不影響;
  用戶可隨時查看當前工作組已測得的數據,并刪除數據或整組數據;
  實時顯示當前工作組統計值:平均值(Mean),zui小值(Min),zui大值(Max),標準方差(Sdev);
  三種探頭模式: 自動(Auto)、磁感應(Magnetic)和渦流(Eddy Current);
  可為各組單獨設置高低限值,超*屏幕指示燈閃爍;
  可開啟或關閉自動關機功能;
  USB接口可傳輸通用組數據到計算機;
  泰仕特涂層測厚儀TST-EC770技術參數:
  1.       測量原理:磁感應(F探頭);渦流效應(N探頭);
  2.       測量范圍:0~1300um;
  3.       測量精度(典型值):± (讀數的3%+2um);
  4.       分辨率:0um~99um(0.1um), 100um~999um (1um), 1000um~1300um (0.01mm);
  5.       校準:零點校準,并支持zui多4點校準;
  6.       數據存儲與分組:一個直接組(數據不保存)和四個通用組(數據可被保存),每組有單獨的統計,有上下限設置和校準設置;
  7.       統計值:支持平均值、zui小值、zui大值和標準方差;
  8.       支持單位:um, mm, mils;
  9.       報警:可設置上下報警限,當發生報警時,液晶屏幕可顯示提示;
  10.   zui小曲率半徑:凸1.5mm,凹25mm;
  11.   zui小測量面積:直徑6mm;
  12.   zui小基材厚度:0.5mm(F探頭);0.3mm(N探頭);
  13.   電腦接口:可通過USB口連接計算機上傳數據;
  14.   電源:兩節1.5V AAA電池;
  15.   操作溫度:0~40℃;
  16.   保存溫度:--20℃ to 70℃;
  17.   尺寸:110mm*53mm*24mm;
  18.   重量:92g;
  低電和錯誤提示;
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